本文標題：" 掃描電子顯微鏡簡介-放大倍數等于顯像管上掃描幅度"

掃描電子顯微鏡簡介-放大倍數等于顯像管上掃描幅度

電子光束發射出的電子束斑經聚光鏡縮小到幾十埃后﹐用偏轉系統使電子束在試樣表面上掃描。電子束與試樣表面作用后﹐

激發出次級電子﹐經探測器收集﹐放大器放大﹐調制一個同步掃描的顯像管亮度﹐形成圖像。

凹凸不平的試樣表面各處與入射電子束有不同的夾角。夾角愈大﹐電子束激發出的次級電子愈少﹐

在像上就顯得愈暗﹐反之就顯得愈亮。由此產生黑白分明﹑有立體感的圖像。像的放大倍數等于顯像管上掃描幅度與試樣上電子束掃描幅度之比。

掃描電鏡的分辨本領略大于電子束斑直徑。目前﹐掃描電鏡的分辨本領一般為 60～100埃。在掃描電鏡中﹐

除次級電子外﹐還可用其他信號成像。背散射電子 back scattering, (在試樣內經多次散射再從試樣表面穿出的入射電子)

所成的像可用來識別原子序數的差異。標識Ｘ射線所成的像可提供元素分布情況。電子束誘導電流和陰極熒光可用來檢驗半導體器件。

電子溝道圖可用來測定晶體的取向。

在掃描電鏡的發展前期曾同時發展起電子探測束﹐它是一種微區成分分析裝置。其原理是利用微小的電子束斑激發試樣的標識Ｘ射線﹐

經晶體分光后再測定試樣的成分。后來﹐掃描電鏡也大都帶有微區成分分析的裝置。現在的商品掃描電鏡中﹐有一類是側重于作微區成分分析用的﹐

這類掃描電鏡已逐漸取代了單獨進行微區成分分析的電子探測束。掃描電鏡中進行 X 射線微區成分分析的裝置有兩類﹕一類是 X 射線波譜分析儀﹐

它與過去的電子探測束相似﹐特點是藉助布拉格定律﹐利用晶體分光﹔另一類是 X 射線能譜分析儀﹐它利用鋰漂移硅探測器進行能量分光﹐

探測器中產生的電子-空穴對與入射光子能量成正比。波譜儀的波長分辨率高﹐能探測原子序數 ≧5 的所有元素﹐

不足之處是一個譜儀一次只能測定一種標識 X 射線。能譜儀則可同時測定試樣中發出的全部能量高于數百電子伏的標識 X 射線﹐

但能量分辨率差﹐目前只能分析原子序數 ≧11 的元素。

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